+86-18011959092 / +86-13802755618
Anda di sini: Rumah » Produk » Probe ujian, jari dan pin » Probe ujian IEC » Probe Wedge IEC 62368 Rajah V.4 Probe Ujian Wedge

Memuatkan

Probe baji IEC 62368 Rajah V.4 Probe Ujian Wedge

Kami adalah profesional , probe baji pengeluar siasatan baji , untuk menguji bukaan slot, digunakan untuk menguji akses kepada pencucian dokumen. Sesuai dengan Rajah UL60950 NAF.2 dan NAF.3 (S5366), IEC62368 Rajah v.4, IEC 60950 Rajah EE.1 dan EE.2 dan untuk pencincang dokumen kertas.

  • Item No.:ZLT-U14
  • Perintah (MOQ): 1
  • Pembayaran: T/T.
  • Asal Produk: China
  • Pelabuhan Penghantaran: Guangzhou
  • Waktu Lead: 10 hari
Ketersediaan:
Kuantiti:
Bertanya Tambah ke bakul

butang perkongsian facebook
butang perkongsian twitter
butang perkongsian garis
butang perkongsian WeChat
butang perkongsian LinkedIn
butang perkongsian Pinterest
butang perkongsian WhatsApp
butang perkongsian Kakao
butang perkongsian Snapchat
butang perkongsian sharethis

  • ZLT-U14

  • Zltjc

  • ZLT-U14

Siasatan baji.

Probe baji IEC 62368 Rajah V.4 Probe Ujian Wedge.

Butiran Produk: Model ZLT-U14.

 

Untuk menguji bukaan slot, digunakan untuk menguji akses kepada pencincang dokumen. Sesuai dengan UL60950 Rajah NAF.2 dan NAF.3 (S5366 Probe), IEC62368 Rajah V.4, IEC 60950 Rajah EE.1 dan EE.2 dan untuk pencincang dokumen kertas, hendaklah dimasukkan ke dalam setiap pembukaan dalam kandang mekanikal. Tiga langkah sendi bersamanya, probe ujian probe berbentuk baji untuk pencincang. Dibuat sepenuhnya dari keluli tahan karat. Semua bahagian ketepatan machined.

Siasatan baji

 

Sebelumnya: 
Seterusnya: 

Produk berkaitan

IEC 60601-2-3 Rajah 201.102 Probe Ujian
IEC 60601-2-3 Rajah 201.102 Probe Ujian
Siasatan jari bersama untuk pengawal kipas
Siasatan jari bersama untuk pengawal kipas
Probe Ujian 32 IEC61032
Probe Ujian 32 IEC61032
Ujian jari jari IEC 60035 Rajah 7
Ujian jari jari IEC 60035 Rajah 7
Ujian Probe 2 dari IEC 61032 ujian sfera
Ujian Probe 2 dari IEC 61032 ujian sfera
Probe Ujian 41 IEC 61032
Probe Ujian 41 IEC 61032
Probe Ujian Telekom IEC 62368 Rajah V.3 Probe Blunt
Probe Ujian Telekom IEC 62368 Rajah V.3 Probe Blunt
Ujian Probe 11 dari jari ujian IEC 61032 tegar
Ujian Probe 11 dari jari ujian IEC 61032 tegar
Siasatan ujian bersama untuk peralatan yang mungkin dapat diakses oleh anak -anak IEC 62368
Siasatan ujian bersama untuk peralatan yang mungkin dapat diakses oleh anak -anak IEC 62368
Probe Ujian Lurus Lurus IEC62368 Rajah V.1 Ujian jari jari.
Probe Ujian Lurus Lurus IEC62368 Rajah V.1 Ujian jari jari.
Pin ujian logam IEC 60065
Pin ujian logam IEC 60065
Ujian Probe A IEC61032
Ujian Probe A IEC61032
Ujian Probe 12 dari IEC 61032 Pin Probe Ujian Panjang
Ujian Probe 12 dari IEC 61032 Pin Probe Ujian Panjang
IEC61032 ujian probe 17 ujian wayar ujian
IEC61032 ujian probe 17 ujian wayar ujian
Jari ujian standard IEC61032 ujian probe b
Jari ujian standard IEC61032 ujian probe b
Ujian Probe 13 dari IEC61032 Pin Ujian Probe Pendek
Ujian Probe 13 dari IEC61032 Pin Ujian Probe Pendek
IEC61032 ujian probe 18 diameter 8.6mm kanak -kanak kecil menguji siasatan jari
IEC61032 ujian probe 18 diameter 8.6mm kanak -kanak kecil menguji siasatan jari
Ujian Probe B mempunyai muka berhenti bulat dengan diameter 50mm
Ujian Probe B mempunyai muka berhenti bulat dengan diameter 50mm
Ujian Probe 14 IEC 61032
Ujian Probe 14 IEC 61032
Probe Ujian 43 IEC 61032
Probe Ujian 43 IEC 61032
Kami mempunyai pasukan jualan profesional, pembekal yang luas, kehadiran pasaran yang mendalam, dan perkhidmatan sehenti yang sangat baik.

Pautan cepat

Kategori produk

Hubungi kami

Telefon: +86-18011959092
                +86-13802755618
Tel:+86-20-81600059
         +86-20-81600135
E-mel ： oxq@electricaltest.com. Cn
               zlt@electricaltest.com. CN
Tambah: 166-8 Longxi Middle Road, Daerah Liwan, Guangzhou, China
Tinggalkan mesej
Hubungi kami
Hakcipta © 2024 Guangzhou Zhilitong Electromechanical Co., Ltd. Hak cipta terpelihara. | Sitemap | Dasar Privasi | Disokong oleh Leadong.com