Դիէլեկտրիկ ուժի փորձարկման ապարատ
IEC 60079.18 փորձարկման սարքավորման դիէլեկտրական ուժի փորձարկման ապարատ:
Ապրանքի մանրամասները` Model ZLT-KQ3
Դիէլեկտրական ուժի փորձարկման սարք, դիէլեկտրական ուժը փորձարկելու համար, համաձայն IEC 60079.18 կետի 8.1.2 դիէլեկտրական ուժի փորձարկման:
Նմուշը պետք է լինի շրջանաձև՝ 50 մմ ± 1 մմ տրամագծով և 3 մմ ± 0,2 մմ հաստությամբ: Նմուշը պետք է լինի սիմետրիկորեն 30 մմ± 1 մմ տրամագծով էլեկտրոդների միջև, ջերմաստիճանի վերահսկվող ջեռոցում, որը պետք է կարգավորվի միացության IEC 60079.18 կետ 3.3-ում սահմանված ամենաբարձր սպասարկման ջերմաստիճանի հասնելու համար:
Դիէլեկտրիկ ուժի փորձարկման սարք՝ 30 մմ վերին և տակի էլեկտրոդներով ± 1 մմ տրամագծով , 1N կամ 3N զանգվածով վերին էլեկտրոդով:
