+86-18011959092 / +86-13802755618
Anda di sini: Rumah » Produk » Uji probe, jari, dan pin » Probe Tes IEC Objek logam lurus IEC62368 Pin uji Lampiran P 2

memuat

Objek logam lurus IEC62368 Pin uji Lampiran P 2

 
Kami adalah produsen profesional objek logam lurus , objek logam lurus , sesuai dengan IEC62368-1 Lampiran P2 dan IEC 60950 Klausul 4.6.4.2
  • Item No.:zlt-p09
  • Pesanan (MOQ): 1
  • Pembayaran: T/T, D/p
  • Asal Produk: China
  • Pelabuhan Pengiriman: Guangzhou
  • Waktu utama: 10 hari
Tersedianya:
Kuantitas:
Menanyakan Tambahkan ke keranjang

Tombol Berbagi Facebook
Tombol Berbagi Twitter
Tombol Berbagi Baris
Tombol Berbagi WeChat
Tombol Berbagi LinkedIn
Tombol Berbagi Pinterest
Tombol Berbagi WhatsApp
Tombol Berbagi Kakao
Tombol Berbagi Snapchat
Tombol Berbagi Sharethis

  • ZLT-P09

  • Zltjc

  • ZLT-P09

 


Objek logam lurus  
Objek logam lurus IEC62368 Lampiran P 2
Model pin uji: ZLT-P09

Untuk mengevaluasi langkah-langkah untuk bukaan yang lebih besar, sesuai dengan IEC 62368-1 Lampiran P 2 dan IEC 60950 Klausul 4.6.4.2, φ 1 mm, panjang 13mm, terbuat dari logam lurus.

Objek logam lurus

 

 

 

 


 

 

 


 

 

 

 

 

 



 

 


 

 


 

 

 

 


 


 


 


 

 

 


 


 


 

 

 

 

 

 

 


 

 

 

Sebelumnya: 
Berikutnya: 

Produk terkait

IEC 60601-2-3 Gambar 201.102 Probe Uji
IEC 60601-2-3 Gambar 201.102 Probe Uji
Probe jari bersendi untuk penjaga kipas
Probe jari bersendi untuk penjaga kipas
Probe Tes IEC61032
Probe Tes IEC61032
Probe Uji 32 dari IEC61032
Probe Uji 32 dari IEC61032
Probe Uji 2 dari IEC 61032 Test Sphere
Probe Uji 2 dari IEC 61032 Test Sphere
Paku Jari Uji IEC 60035 Gambar 7
Paku Jari Uji IEC 60035 Gambar 7
Probe Uji 41 dari IEC 61032
Probe Uji 41 dari IEC 61032
Probe uji telekomunikasi IEC 62368 Gambar v.3 Probe Blunt
Probe uji telekomunikasi IEC 62368 Gambar v.3 Probe Blunt
Probe Uji 11 dari IEC 61032 Jari uji kaku
Probe Uji 11 dari IEC 61032 Jari uji kaku
Probe uji bersendi untuk peralatan yang kemungkinan dapat diakses oleh anak -anak IEC 62368
Probe uji bersendi untuk peralatan yang kemungkinan dapat diakses oleh anak -anak IEC 62368
Probe uji lurus yang tidak ditunjuk dari IEC62368 Gambar v.1 Probe Jari Uji.
Probe uji lurus yang tidak ditunjuk dari IEC62368 Gambar v.1 Probe Jari Uji.
Pin uji logam IEC 60065
Pin uji logam IEC 60065
Probe Tes A dari IEC61032
Probe Tes A dari IEC61032
Probe Uji 12 dari IEC 61032 Pin Probe Uji Panjang
Probe Uji 12 dari IEC 61032 Pin Probe Uji Panjang
IEC61032 Probe Tes 17 Probe Kawat Uji
IEC61032 Probe Tes 17 Probe Kawat Uji
Jari uji standar IEC61032 Probe uji b b
Jari uji standar IEC61032 Probe uji b b
Probe Tes 13 dari IEC61032 Pin Tes Probe Pendek
Probe Tes 13 dari IEC61032 Pin Tes Probe Pendek
IEC61032 Probe Tes 18 Diameter 8.6mm Anak Kecil Probe Jari Tes
IEC61032 Probe Tes 18 Diameter 8.6mm Anak Kecil Probe Jari Tes
Probe uji B memiliki wajah berhenti melingkar dengan diameter 50mm
Probe uji B memiliki wajah berhenti melingkar dengan diameter 50mm
Probe Uji 43 dari IEC 61032
Probe Uji 43 dari IEC 61032
Kami memiliki tim penjualan profesional, pemasok yang luas, kehadiran pasar yang dalam, dan layanan satu atap yang sangat baik.

Tautan cepat

Kategori Produk

HUBUNGI KAMI

Telepon ： +86-18011959092
                +86-13802755618
Tel ：+86-20-81600059
         +86-20-81600135
Email ： oxq@electricaltest.com. CN
               zlt@electricaltest.com. CN
Tambahkan ： 166-8 Longxi Middle Road, Distrik Liwan, Guangzhou, Cina
Tinggalkan pesan
Hubungi kami
Hak Cipta © 2024 Guangzhou Zhilitong Electromechanical Co., Ltd. Semua hak dilindungi undang -undang. | Sitemap | Kebijakan Privasi | Didukung oleh leadong.com